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正立式激光干涉仪工作站

       在有些应用,根据样品的形状、装夹方法、或者模拟样品使用状态下测量,正立式干涉仪结构相比卧式和倒立式更有优势。例如半球形球罩面形和曲率半径的测量,正立式结构能够实现盘上测量以及下盘后的无夹持应力测量,而卧式结构无法夹持半球,倒立式结构测量盘上时需要支撑样品和磨盘的重力,易造成样品变形。

      G100U和G150U是乾曜光学新开发的两款正立式激光干涉仪工作站,有效口径分别为100mm(4英寸)和150mm(6英寸)。可以测量平面面形、球面面形和曲率半径,选配双五维载物台,可以测量透过波前和非球面的补偿法测量。



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