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G100/G150/G200 立式激光平面干涉仪

        立式激光平面干涉仪为正立式结构,通光口径有200mm,150mm和100mm三种,正立式结构兼容了平面元件的平放测量、拼盘测量和高精度测量。立式结构比卧式测量效率更高。

        G200M,G150M和G100M专为计量和科研需求设计,适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器,高清光学系统,1-6倍图像放大功能和精密平面标准镜等一系列高精技术,选配Sirius抗振移相干涉条纹分析软件,实现高精密平面光学元件的测量。



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