G100U和G150U是乾曜光学新开发的两款正立式激光干涉仪工作站，有效口径分别为101.6mm（4英寸）和152.4mm（6英寸）。可以测量平面面形、球面面形和曲率半径，选配双五维载物台，可以测量透过波前和非球面的补偿法测量。

G100D和G150D立式激光干涉仪的有效口径分别为101.6mm（4英寸）和152.4mm（6英寸）。

G200M，G150M和G100M专为计量和科研需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，高清光学系统，1-6倍图像放大功能和精密平面标准镜等一系列高精技术，选配Sirius抗振移相干涉条纹分析软件，实现高精密平面光学元件的测量。

G系列激光干涉仪定位高性价比的精密激光干涉仪，可以进行平面面形、平行度、波前和材料均匀性，球面面形、曲率半径以及光学系统波像差等几乎所有的干涉测量，可测量材料包含玻璃、塑胶、陶瓷、硅片和抛光的金属。